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光学薄膜产品可靠性试验之冷热冲击试验箱的应用

文章出处:网责任编辑:作者:人气:-发表时间:2018-10-25 09:00:00
产品设计成型后,必须对产品进行可靠性试验,产品可靠性试验是激发潜在失效模式,提出改进措施,确定项目或系统是否满足预先制定的可靠性要求的必须步骤。下面,msyz555.cnm小编就给大家讲解一下光学薄膜产品可靠性试验之冷热冲击试验箱的应用吧!
 
光学薄膜产品可靠性试验之冷热冲击试验箱的应用
 
试验目的
冷热冲击试验箱可以考核产品承受温度剧烈变化,即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效热冲击试验与温度循环试验的目的基本一致,但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。
试验条件
被试样品是置于液体中。主要是控制样品处于高温和低温状态的温度和时间及高低温状态转换的速率。冷热冲击试验箱内液体的流通情况、温度传感器的位置、夹具的热容量都是保证试验条件的重要因素。
其控制原则与温度循环试验一样,试验所要求的温度、时间和转换速率都是指被试样品,不是试验的局部环境。微电路的转换时间要求不大于lo,:转换时被试样品要在5 min内达到规定的温度;在高温或低温状态下的停留时间要求不小于2 min;高低温条件分为三档,A档为0+2-10℃~100+10-2℃,B档为一55”llc~125+10℃,c档为-655,0℃一150+10℃.A档一般用水作载体,B档和C档用过碳氟化合物作载体。作载体的物质不得含有氯和氢等腐蚀性物质或强氧化剂物质。
此文关键字:冷热冲击试验箱